Наноэлектроника: устройства, цепи, архитектура презентация

Содержание

Слайд 2

OUTLINE 1. Microelectronics: Present status and challenges - CMOS: the

OUTLINE

1. Microelectronics: Present status and challenges
- CMOS: the technology which

has changed the world
- scaling and Moore’s Law
- the Red Brick Wall: “challenges” and challenges
2. Nanoelectronics: Physics and technology
- carbon nanotubes, graphene, spintronics, and other fashions
- physics options: ballistics, tunneling, quantum-mechanical interference
- the patterning challenge, the bottom-up approach
3. Hybrid CMOS/nanoelectronic circuits
- memory effects
- the hybrid circuits: history and evolution
- CMOL, FPNI, 3D CMOL and all that alphabet soup
4. Possible applications
- terabit-scale memories
- reconfigurable logic circuits
- the CMOL roadmap
- mixed-signal neuromorphic networks
5. Challenges
- molecular options: single-electronics vs. atomic reconfiguration
- advanced patterning methods
- summary and conclusions
Слайд 3

Из пещер к цифровому обществу

Из пещер к цифровому обществу

Слайд 4

CMOS MEMORY AND PROCESSORS КМОП память и процессоры Intel Core

CMOS MEMORY AND PROCESSORS
КМОП память и процессоры

Intel Core 2 Extreme microprocessors

(2008): 45 nm fab, ~3×108 transistors, 4MB L2 cache, power consumption ~75 W)

Samsung SD card with NAND flash memory chip (Feb. 2009: 64 Gb on a die at 43 nm fab)

Figure: Intel

Флэш-память NAND отличается малыми размерами запоминающей ячейки и, соответственно, минимальной ценой единицы информации; широко используется в запоминающих устройствах таких потребительских товарах, как цифровые камеры и плееры MP3. Эта архитектура также широко применяется для хранения данных в камерах и сотовых телефонах.

Слайд 5

SILICON MOSFET: THE CONCEPT Концепция полевого МОП транзистора Линейный режим:

SILICON MOSFET: THE CONCEPT
Концепция полевого МОП транзистора

Линейный режим:

Насыщение:

Исток

Исток

Сток

Сток

Затвор

Затвор

Слайд 6

Современные полевые МОП транзисторы Upper interfacial region Bulk high-k film

Современные полевые МОП транзисторы

Upper interfacial region

Bulk high-k film

Lower interfacial region

Gate electrode

Si

Substrate (or SOI with Si thickness ≈1/3 Lg)

Source

Drain

Spacer

High-k Gate dielectric stack

Lg

Слайд 7

CMOS LOGIC Inverter NAND gate CMOS cross-section FET notation: n-channel p-channel

CMOS LOGIC

Inverter

NAND gate

CMOS cross-section

FET notation:
n-channel p-channel

Слайд 8

СОЗУ SRAM 5-6 transistors, access time below 1 ns, CMOS-scalable, A ~ 100 F2 Operation idea:

СОЗУ SRAM

5-6 transistors, access time below 1 ns, CMOS-scalable, A ~

100 F2

Operation idea:

Слайд 9

ДОЗУ DRAM 1 transistor, access in 10s ns, needs refresh,

ДОЗУ DRAM

1 transistor, access in 10s ns, needs refresh, NOT scalable

(C ~ 25 fF)

From 16 Mb up, non-planar; stuck at 512 Mb;
stopped to be the IC technology driver, but still no good replacement

Слайд 10

NAND FLASH MEMORY: CELL Drain Source Control Gate Interpoly Drain

NAND FLASH MEMORY: CELL

Drain

Source

Control Gate

Interpoly

Drain

Source

Control Gate

Drain

Source

Floating Gate

Control Gate

dielectric

Tunnel

oxide

Fowler-Nordheim tunneling

Si

Si

SiO2

7-8 nm

Слайд 11

Закон Мура (MOORE’S LAW) Log2 количества компонентов на интегрированную функцию

Закон Мура (MOORE’S LAW)

Log2 количества компонентов на интегрированную функцию

Слайд 12

Закон Мура для интегрированных схем Figure: Intel Сложность интегрированных схем

Закон Мура для интегрированных схем

Figure: Intel

Сложность интегрированных схем

Слайд 13

Закон Мура для минимального размера Технологический размер, мкм 0,5 шага ДОЗУ

Закон Мура для минимального размера

Технологический размер, мкм

0,5 шага ДОЗУ

Слайд 14

1970 1980 1990 2000 2010 Закон Мура для плотности элементов

1970 1980 1990 2000 2010

Закон Мура для плотности элементов

Транзисторов на чип

109
108
107
106
105
104
103

Мин.

размер структуры, нм

104
103
102
10

DRAM

μP

Flash

2009

Слайд 15

Физические основы закона Мура на примере MOSFET Figure: R. Isaac (2001)

Физические основы закона Мура на примере MOSFET

Figure: R. Isaac (2001)

Слайд 16

Экономические основы закона Мура Стоимость микропроцессоров NAND Flash 2009: ~10-11

Экономические основы закона Мура

Стоимость микропроцессоров

NAND Flash 2009:
~10-11 $/transistor (!!)

Figure: D.

Hutcheson, VLSI Research

Прирост 6.5%/год

Прирост 12.2%/год

New fab: ~ a few $B, currently ~30 are being built.
The semiconductor industry can progress only by rolling over a large fraction of its revenue into the development of the next generation of chips.

Чипы: Расходы на НИР и доходы
(млн. долларов)

Слайд 17

1 THz HTS RSFQ (??) 100 GHz LTS RSFQ 20

1 THz
HTS RSFQ (??)
100 GHz LTS RSFQ

20 MJJ
10M JJ 0.3 um
0.5M JJ 0.5 um
1.0 um
50K JJ
10K JJ 2.0 um
10 GHz 3.5 um 0.030 um 0.045 um
0.07 um
0.10 um
0.15 um CMOS
1 GHz
100 MHz
1995 1998 2001 2004 2007 2010
Year

DETOUR A: NOT EVERYTHING IS MOORE’S LAW

Rapid Single-Flux-Quantum (RSFQ) logic

770 GHz, 1.5 μW frequency divider

Flux 1 μp (~80,000 JJ)

Слайд 18

Флеш-память: взрывное развитие Figure courtesy: B. G. Park

Флеш-память: взрывное развитие

Figure courtesy: B. G. Park

Слайд 19

Courtesy: U. Mastromatteo, STMicroelectronics MAGNETIC RECORDING Hard Disk Drive (HDD)

Courtesy: U. Mastromatteo, STMicroelectronics

MAGNETIC RECORDING
Hard Disk Drive (HDD)

7,200 rpm: ~10 m/s

@ h ~10 nm
(for jet plane at h ~ 300 nm)
Слайд 20

MAGNETIC RECORDING: AREAL DENSITY AS OF 2001

MAGNETIC RECORDING: AREAL DENSITY AS OF 2001

Слайд 21

Courtesy: I. Schuller, UCSD Far insufficient! - KKL

Courtesy: I. Schuller, UCSD

Far insufficient! - KKL

Имя файла: Наноэлектроника:-устройства,-цепи,-архитектура.pptx
Количество просмотров: 37
Количество скачиваний: 0