Примеси и примесные состояния в полупроводниках презентация

Содержание

Слайд 2

Для управления электрическими свойствами полупроводников в них специально вводят примеси (легируют). Необходимо подчеркнуть,

что при замещении атома кристалл остается электронейтральным!

Слайд 3

Элементы III, IV, V групп Периодической системы Д.И. Менделеева

Слайд 4

Донорный полупроводник

Слайд 5

Донорный полупроводник

Энергия ионизации доноров (Ed), как правило, невелика и при комнатной температуре донорная

примесь отдает свои электроны, поэтому такие полупроводники и называют электронными или полупроводниками n-типа, а электроны – основными носителями заряда. Дырки в электронном полупроводнике являются неосновными носителями.

Слайд 6

Уровень Ферми в донорном полупроводнике

В невырожденном донорном полупроводнике при температуре абсолютного нуля уровень

Ферми находится посередине между дном зоны проводимости и уровнем донорной примеси. При повышении температуры уровень Ферми стремится к середине запрещенной зоны

Слайд 7

Донорный полупроводник

Введение донорной примеси приводит к увеличению концентрации электронов (при её ионизации) и,

соответственно, к смещению уровня Ферми к зоне проводимости (чем он ближе к ней, тем больше концентрация электронов).

Слайд 8

Уравнение электронейтральности

Для собственного полупроводника:

Если в полупроводнике присутствуют как донорная, так и акцепторная

примесь

Слайд 9

;

В невырожденном донорном полупроводнике при температуре абсолютного нуля уровень Ферми находится посередине

между дном зоны проводимости и уровнем донорной примеси. При повышении температуры уровень Ферми стремится к середине запрещенной зоны

Слайд 10

Зависимость положения уровня Ферми от температуры в полупроводнике n-типа

Слайд 11

Заполнение электронами зоны проводимости в невырожденном полупроводнике n-типа

Слайд 12

Функция Ферми-Дирака для примесных полупроводников

Слайд 13

Положение уровня Ферми и концентрация носителей заряда для донорного полупроводника

Слайд 14

Концентрация носителей заряда в легированном полупроводнике

Слайд 15

Зависимость концентрации электронов от температуры в полупроводнике n-типа

Слайд 16

В области температур между Ti и Ts (при температурах, близких к комнатной) можно

легко рассчитать концентрацию неосновных носителей заряда

Слайд 17

Акцепторный полупроводник

Слайд 18

Акцепторный полупроводник

Энергия ионизации акцепторов Ea<

такие полупроводники и называют полупроводниками p-типа, а дырки – основными носителями заряда. Электроны в полупроводнике p-типа являются неосновными носителями. Введение акцепторной примеси приводит к смещению уровня Ферми к валентной зоне.

Слайд 19

Уровень Ферми в акцепторном полупроводнике

(6.3)

(6.4)

Слайд 20

Зависимость положения уровня Ферми от температуры в акцепторном полупроводнике

Слайд 22

Зависимость положения уровня Ферми от температуры для Ge n- и p-типов

Слайд 23

Уравнение электронейтральности

Для собственного полупроводника:

Если в полупроводнике присутствуют как донорная, так и акцепторная

примесь

Слайд 24

Проводимость полупроводников

Электронная проводимость

Слайд 25

Средняя тепловая скорость движения электронов будет определяться классическим соотношением:

~107 см/с –

средняя тепловая скорость электронов, k – постоянная Больцмана

Слайд 26

Электроны взаимодействуют с дефектами кристаллической решетки, между собой и ядрами, изменяя (рассеивая) свою

кинетическую энергию.

Усредненное значение участков пути, пройденное электроном между актами рассеяния, называются средней длиной свободного пробега. Время между двумя актами взаимодействия – временем свободного пробега:

При воздействии электрического поля Ē на полупроводник средняя скорость движения носителей заряда становится не равной нулю ( ) в направлении, определяемом направлением напряженности электрического поля, она называется дрейфовой скоростью. Движение носителей заряда под воздействием электрического поля называется дрейфом

Слайд 27

Смещение энергетических зон под действием электрического поля

А) Без смещения Б) Приложено внешнее напряжение

Слайд 29

Расчет скорости свободного электрона

Слайд 30

Схема движения свободного электрона

а – при отсутствии внешнего поля б – при наличии

внешнего поля Е

Слайд 31

Коэффициент пропорциональности между дрейфовой скоростью и напряженностью электрического поля называют подвижностью носителей заряда

и обозначают μ [ ]

Предположим, что ток через образец создается электронами, концентрация которых n и средняя дрейфовая скорость

.

Слайд 32

Поскольку величина тока равна заряду, проходящему через сечение образца в единицу времени, плотность

тока при слабом электрическом поле по закону Ома:

где σ – проводимость.

Слайд 33

Отсюда легко получить закон Ома в дифференциальной форме:

Где – электронная проводимость (Ом∙см)


Проводимость материала определяется двумя основными параметрами: подвижностью носителей заряда и их концентрацией.

Слайд 34

Классификация веществ

Слайд 35

Насыщение дрейфовой скорости в сильных электрических полях

Слайд 36

Существует несколько механизмов рассеяния энергии свободных носителей заряда. Для полупроводников наиболее важные два:

рассеяние в результате взаимодействия с колебаниями решетки (решеточное рассеяние) и рассеяние в результате взаимодействия с ионизованной примесью.
Рассеяние – мгновенные события, внезапно меняющие скорость электронов. По теории Друде (1900 г.) рассеяние на самих электронах не является важным! Экспериментальные исследования температурной зависимости подвижности показывают, что при низких температурах преобладает рассеяние на ионах примеси, а при более высоких – рассеяние на тепловых колебаниях решетки.

Слайд 37

Подвижность носителей заряда

Слайд 38

Рассеяние на ионах примеси

Слайд 39

Подобно тому, как электромагнитное поле излучения можно трактовать как набор световых квантов –

фотонов, поле упругих колебаний, заполняющих кристалл, можно считать совокупностью квантов нормальных колебаний решетки – фононов.
Фонон (термин введен И.Е. Таммом) – квант колебаний атомов кристаллической решетки.

Слайд 40

Рассеяние на колебаниях решетки

Слайд 41

При одновременном действии нескольких механизмов рассеяния для расчета подвижности можно воспользоваться понятием эффективной

подвижности носителей.

Слайд 42

Зависимость подвижности электронов и дырок от концентрации легирующей примеси

Слайд 43

Зависимость подвижности носителей заряда от обратной температуры при различных концентрациях примеси

Слайд 44

Поскольку в собственном полупроводнике отсутствуют примеси, рассеяние электронов и дырок в нем должно

происходить только на тепловых колебаниях решетки, т.е. в собственных кристаллах значение подвижности носителей заряда должно быть максимальным

Слайд 45

Типичные значения подвижности (300К) для некоторых полупроводников

Слайд 47

Дырочная проводимость

Чем больше подвижность, тем больше дрейфовая скорость носителей заряда и тем

выше быстродействие полупроводникового прибора

Слайд 48

Расчет электропроводности

Слайд 49

Суммарная электропроводность материала определяется общим количеством электронов и дырок:

Плотность тока в кристалле

будет равна

Слайд 50

Собственная проводимость

Зависимость электропроводности собственного материала от температуры:

Имя файла: Примеси-и-примесные-состояния-в-полупроводниках.pptx
Количество просмотров: 65
Количество скачиваний: 0